Emlő MR vizsgálat natív plusz iv. kontrasztanyag adásával, valamint szilikon mérésekkel

Az emlő MR szilikonméréssel natív és kontrasztos vizsgálata egy speciális képalkotó eljárás, amely az emlőszövet és a beültetett szilikon implantátumok állapotának részletes feltérképezésére szolgál.

• Szilikon implantátummal rendelkező páciensek rendszeres ellenőrzésére
• Implantátum szivárgás, sérülés gyanúja esetén
• Emlődaganat vagy elváltozás részletes vizsgálatára
• Kontrasztos vizsgálattal a tumores szövetek elkülönítésére

A páciens hanyatt fekszik az MRI készülékben, mellrésze a speciális emlőszondák között helyezkedik el. Először natív (kontrasztanyag nélküli) képeket készítenek, majd kontrasztos felvételeket, melyek segítenek a lágyszöveti eltérések pontosabb megítélésében.

Ez a vizsgálat életbevágó a szilikon implantátumok állapotának ellenőrzésében, továbbá az emlő betegségeinek korai felismerésében.